EPOCH1000i 经济型相控阵探伤仪

EPOCH1000i 经济型相控阵探伤仪为一款具有强大的常规超声和相控阵缺陷探测能力的坚固耐用的便携式仪器。这款仪器使用单一设置显示多种不同角度（聚焦法则）的A扫描，从而省去了对多个探头和楔块的需要。这个特性不仅提高了发现缺陷的机率，而且改善了缺陷区域的显示效果，进而提高了缺陷检测的效率。这款仪器不仅具备与EPOCH 1000一样的优异可靠的常规检测性能，还因使用相控阵技术增添了新的优势特性。EPOCH 1000i可根据常规标准进行符合规范的检测，其对相控阵技术的运用提高了检测的精确性和效率。

EPOCH1000i 经济型相控阵探伤仪的标准配置为16:16，可通过软件升级到16:64的配置。EPOCH 1000i还包括很多有助于缺陷检测的定量功能。仪器的标准配置还包括用于缺陷定量的A扫描和S扫描的参考光标和定量光标。

增益校准曲线

同时显示A扫描和S扫描的视图

EPOCH 1000i仪器具有同时显示A扫描和S扫描的标准视图。这个视图显示来自处于用户定义的起始角度和终止角度之间的每个角度的A扫描数据。可以选择被统称为聚焦法则的某个单个角度，将这个角度的A扫描实时显示在屏幕上。这样用户利用相控阵成像功能，可以同时在多个角度下探测并定性潜在的缺陷。

校准全部聚焦法则

EPOCH 1000i仪器在相控阵模式下校准增益和零位偏移时，只需一步操作，即可对全部聚焦法则进行校准。这种自动校准操作可以在所有成像的角度（聚焦法则）下捕获单个反射体的峰值波幅或声时/距离测量值。然后，仪器使用捕获的波幅或声时/距离数据对每个聚焦法则的增益和零位偏移进行调整，以为每个A扫描提供经过校准的测量值。

用于手动成像检测的相控阵功能

相控阵DAC编辑模式

用于全部聚焦法则的标准DAC/TVG

EPOCH 1000i仪器的标准配置包含用于全部聚焦法则的DAC/TVG。操作人员可以基于已知反射体，一次性为所有需要定义的角度或聚焦法则采集DAC曲线或创建TVG设置。随后，用户可以对在设置过程中采集到的单个点进行编辑，以获得精确的DAC曲线或TVG设置。设置完成以后，用户即可使用S扫描图像探测出各个聚焦法则下的潜在缺陷。

相控阵DGS/AVG模式

标准相控阵DGS/AVG

DGS/AVG缺陷定量技术是相控阵模式中的一个标准选项。这个功能使用探头ID识别码与楔块信息，建立DGS/AVG曲线特性，并将曲线应用在0°、45°、60°和70°聚焦法则上。用户使用标准EPOCH仪器的机载DGS/AVG菜单和经过修正的增益校准工具，可以快速方便地进行设置。这个选项还提供插值图像TVG，用于在特定声程范围内进行便捷的检测操作。

使用相控阵技术的焊缝检测解决方案

带有焊缝覆盖的相控阵S扫描

焊缝覆盖

焊缝覆盖功能是EPOCH 1000i仪器的标准配置，为用户在S扫描显示中提供了一个焊缝纵剖面图的视觉参考信息。这个纵剖面图可显示缺陷指示相对于焊缝几何形状的相对位置。

用户使用焊缝中线光标，可以手动定位焊缝覆盖图在S扫描中的位置。焊缝覆盖功能不仅加强了在检测过程中探出、定性、定量工件中缺陷的能力，而且提高了缺陷检测报告的质量。

多角度相控阵模式

EPOCH 1000i的多角度功能

EPOCH 1000i仪器的相控阵模式添加了一个名为"多角度"的标准功能。操作人员使用这个功能可扫查扇区范围内的任何3个角度或聚焦法则，作为"可见的"聚焦法则。A扫描窗口中会显示叠加在一起的来自3个角度的A扫描图像。这样，操作人员可以同时查看全部3个A扫描图像。为使用方便，每个单独的角度都以不同的颜色区分。对于需要使用常规定量方法在45°、60°和70°角度处进行评价的检测人员来说，这无疑是一个非常完美的功能！

带有真实深度闸门的A扫描和S扫描

真实深度闸门

在真实深度模式下，可以在S扫描中显示多个测量闸门，这样就可以在贯穿工件、间距相等的深度位置上采集测量读数，而无需考虑所选择的聚焦法则。这个功能在使用编码C扫描选项时尤其有用，因为用户利用这个功能，可以在一个单一闸门位置上采集到一个完整跳跃距离的信息。

真实深度闸门是只会出现在S扫描中的几条水平线。A扫描视图依然保持声程模式。

45°聚焦法则的AWS"D"值焊缝定级显示

AWS焊缝定级

EPOCH 1000i仪器的标准配置包含一个AWS D1.1/D1.5焊缝定级计算器。如果仪器使用符合AWS定级的Olympus相控阵探头，则可利用成像功能进行缺陷探测，同时利用常规A扫描技术定量在45°、60°和70°处的缺陷。操作人员还可在屏幕上观察任何所选A扫描（聚焦法则）的焊缝定级D值。

线性扫查和编码C扫描

这个可选购软件功能将EPOCH 1000i仪器的配置提高到了16:64晶片，既可以显示线性扫描，也可以显示编码或时基C扫描。使用多含有64个晶片，大活动孔径为16个晶片的探头，可以采集线性扫描图。

沿单线扫查轴进行已编好程序的线性扫查或扇形扫查，可以采集到图像数据；这些图像数据的积累可以创建C扫描图像。探头沿扫查轴移动时需要有一个编码器跟踪探头的移动。这个编码C扫描图像收集来自两个独立测量闸门的渡越时间（TOF）数据和波幅数据。在C扫描图像的采集过程中会实时显示A扫描。C扫描中所有点的压缩A扫描图像都会被存储起来，并在显示C扫描中某个位置的S扫描或线性扫描的同时显示这个位置的A扫描图像，用于基本的图像分析。采集到扫描图像以后，可以对数据源和类型进行动态调节，可使用光标进行基本扫查定量操作。这个软件功能还具有一些附加彩色调色板，用于相控阵扫描图像。这些彩色调色板分别具有不同的颜色标度，可用于各种应用，还可被修改以满足用户的特殊需求。

请观看有关编码C扫描特性的视频。

零度C扫描

特性

• 编码或时基C扫描

• 单向或双向编码

• 支持多达64个晶片的探头

• 小扫查分辨率为1毫米

• 所有C扫描点的压缩A扫描存储

• 可根据S扫描或线性扫描创建C扫描

• 每次扫查的大编码距离为3米（扫查分辨率为每毫米61个聚焦法则）

• 图像和A扫描回放，使用光标可进行图像分析

与EPOCH 1000i仪器配套使用的相控阵探头及配件

EPOCH 1000i仪器支持新型相控阵系列探头，可满足关键性检测的要求。这些探头包括符合某些特殊规范的特定探头和标准焊缝检测探头，其中某些相控阵探头的楔块可被拆装，也可与探头整合为一体。大多数含有不超过64个晶片的常用相控阵探头都可与EPOCH 1000i仪器兼容。

常规模式到相控阵模式的快速转换

EPOCH 1000i在常规模式下，与所有标准单晶探头兼容。只需按一下按钮，便可轻松实现从常规UT探头检测到相控阵探头检测的转换！鉴于EPOCH 1000i仪器这种从UT模式到PA模式的快速转换特性，操作人员在检测过程中可轻而易举综合享用常规超声和相控阵超声两种技术。

袖珍轮式编码器

袖珍轮式编码器可与编码C扫描选项一起使用，在扫查轴上进行缺陷的定位和定量操作，并使数据采集与探头的移动同步。

袖珍轮式编码器具有防水特点；利用附送的托架套件可将其安装于Olympus PA楔块上。这款袖珍编码器*由不锈钢材料制成，并带有封闭的轴承，具有平稳顺畅、经久耐用的特点。根据用户需求特殊定制的电子电路可降低噪声感应。

特性

• 防水（设计符合IP68评级）

• 较小的端部尺寸

• 双O形环轮胎，具有更好的附着力

• 密封轴承，使编码器轮转动顺滑、经久耐用

• 用于保护线缆的应变消除功能

• 外壳顶部有两个M3螺纹孔，使连接更为紧固

标准套装件

• 1个带有标准轮的编码器

• 1个托架套件

• 1个用于安装托架的六角匙螺丝刀

• 1个便携箱