平板探测器可应用于NDT行业的所有领域,重量约3.5kg,可选择防护壳保护超轻的平板,免受硬射线损伤,同时有助于方便地固定在管子等被检测物上进行在线检测。
不同材料的夹层屏蔽来自硬射线的电子,数字平板一次可以安全的用于现场检测和固定检测,甚至硬射线,比如同位素应用。
平板探测器从能量转换的方式可以分为两种:间接转换平板探测器和直接转换平板探测器。
间接转换平板探测器:由碘化铯等闪烁晶体涂层与薄膜晶体管或电荷耦合器件或互补型金属氧化物半导体构成。间接转换平板探测器的工作过程一般分为两步,首先闪烁晶体涂层将X线的能量转换成可见光;其次TF T或者C CD,或C MO S将可见光转换成电信号。由于在这过程中可见光会发生散射,对空间分辨率产生一定的影响。虽然新工艺中将闪烁体加工成柱状以提高对X线的利用及降低散射,但散射光对空间分辨率的影响不能*消除。
直接转换平板探测器:主要由非晶硒层T FT构成。入射的X射线使硒层产生电子空穴对,在外加偏压电场作用下,电子和空穴对向相反的方向移动形成电流,电流在薄膜晶体管中形成储存电荷。每一个晶体管的储存电荷量对应于入射X射线的剂量,通过读出电路可以知道每一点的电荷量,进而知道每点的X线剂量。由于非晶硒不产生可见光,没有散射线的影响,因此可以获得比较高的空间分辨率。